Zobrazeno 1 - 10
of 2 311
pro vyhledávání: '"focused electron beam-induced deposition"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Eur. Phys. J. D 77 (2023) 15
The role of thermal effects in the focused electron beam induced deposition (FEBID) process of Me$_2$Au(tfac) is studied by means of irradiation-driven molecular dynamics simulations. The FEBID of Me$_2$Au(tfac), a commonly used precursor molecule fo
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2208.12134
The focused electron beam induced deposition (FEBID) process was used by employing a Gemini SEM with a beam characteristic of 1keV and 24pA for the deposition of pillars and line shaped deposits with heights between 9nm to 1um and widths from 5nm to
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2206.01422
Autor:
Escalante-Quiceno, Alix Tatiana1 (AUTHOR), Novotný, Ondřej2 (AUTHOR), Neuman, Jan2 (AUTHOR), Magén, César1,3 (AUTHOR), De Teresa, José María1,3 (AUTHOR) deteresa@unizar.es
Publikováno v:
Sensors (14248220). Mar2023, Vol. 23 Issue 6, p2879. 11p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Po-Yuan Shih, Maicol Cipriani, Christian Felix Hermanns, Jens Oster, Klaus Edinger, Armin Gölzhäuser, Oddur Ingólfsson
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 13, Iss 1, Pp 182-191 (2022)
Motivated by the potential role of molybdenum in semiconductor materials, we present a combined theoretical and experimental gas-phase study on dissociative electron attachment (DEA) and dissociative ionization (DI) of Mo(CO)6 in comparison to focuse
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4e84849ca5c54e3b946daaa58fb181ea
Autor:
Robert Winkler, Michele Brugger-Hatzl, Fabrizio Porrati, David Kuhness, Thomas Mairhofer, Lukas M. Seewald, Gerald Kothleitner, Michael Huth, Harald Plank, Sven Barth
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 13, Iss 21, p 2907 (2023)
Electron-induced fragmentation of the HFeCo3(CO)12 precursor allows direct-write fabrication of 3D nanostructures with metallic contents of up to >95 at %. While microstructure and composition determine the physical and functional properties of focus
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fd9e8eefb5e34e6ab13b3ab230a5aae3
Autor:
de Vera, Pablo, Azzolini, Martina, Sushko, Gennady, Abril, Isabel, Garcia-Molina, Rafael, Dapor, Maurizio, Solov'yov, Ilia A., Solov'yov, Andrey V.
Publikováno v:
Scientific Reports 10, 20827 (2020)
Focused electron beam induced deposition (FEBID) is a powerful technique for 3D-printing of complex nanodevices. However, for resolutions below 10 nm, it struggles to control size, morphology and composition of the structures, due to a lack of molecu
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2006.04085