Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"femtosecond laser ultrasonics"'
Autor:
Yun Young Kim
Publikováno v:
Materials, Vol 15, Iss 6, p 2165 (2022)
Nanoscale amorphous silicon carbide (a-SiC) thin films are widely used in engineering applications. It is important to obtain accurate information about their material properties because they often differ from those of the bulk state depending on the
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/bdb441d43d344f08aba53d47c076d792
Publikováno v:
Coatings
Volume 13
Issue 2
Pages: 438
Volume 13
Issue 2
Pages: 438
Accurate measurement of elastic constants in thin films is still an important issue to understand the scale behavior of nanosized materials. In the present study, we introduced an advanced non-destructive method, picosecond ultrasonics (PU), for meas
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d07bf1bf62b97c7f015571e4d3c8e5c2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.