Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"fault-tolerant method"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Engineering (2019)
The development of space applications based on commercial system on chip (SOC) FPGA devices has become an important direction for the development of aerospace technology, but single event upsets (SEUs) in space is a difficult problem for commercial S
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ae95346d3d324d70b46ec5e35cc95d40
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Gong-kuang zidonghua, Vol 40, Iss 8, Pp 82-84 (2014)
In order to avoid missing key message caused by sending fault of CAN node in mine-used new energy electric locomotive, a sending fault tolerant method of CAN bus based on TTCAN protocol was proposed, that is, message sent unsuccessfully by CAN node w
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9d261cf5222449958550a05f300ae2a5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Engineering (2019)
The development of space applications based on commercial system on chip (SOC) FPGA devices has become an important direction for the development of aerospace technology, but single event upsets (SEUs) in space is a difficult problem for commercial S
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7a7bf4396188d55781248ee90de3b562
https://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/joe.2018.9099
https://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/joe.2018.9099
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
DTIS
2016 International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
2016 International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
Date of Conference: 12-14 April 2016 Conference name: 2016 International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) Today's integrated circuits are more susceptible to permanent link failures than before as a re
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5ab52d012e745244973348017da6f903
https://doi.org/10.1109/dtis.2016.7483876
https://doi.org/10.1109/dtis.2016.7483876