Zobrazeno 1 - 10
of 10 144
pro vyhledávání: '"fault scenarios"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 12, Pp 4631-4641 (2024)
Erasure codes are widely used in large-scale distributed storage systems due to their high efficiency and reliability, but they also face extremely high repair penalties when data corruption occurs. At present, machine learning methods can accurately
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6f8b10857fd44aa58d1a4acc341099eb
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shankarshan Prasad Tiwari
Publikováno v:
Iranian Journal of Electrical and Electronic Engineering, Vol 20, Iss 1, Pp 43-55 (2024)
In recent years, due to the widespread applications of DC power-based appliances, the researchers attention to the adoption of DC microgrids are continuously increasing. Nevertheless, protection of the DC microgrid is still a major challenge due to a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5446bc5b37774556aa7c1128501a8759
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.