Zobrazeno 1 - 10
of 8 635
pro vyhledávání: '"fault coverage"'
Autor:
V. I. Kuraedov
Publikováno v:
Вестник Дагестанского государственного технического университета: Технические науки, Vol 51, Iss 1, Pp 113-122 (2024)
Objective. Comprehensive integrated circuit (IC) verification plays a crucial role in preventing costly errors and delays in product development cycle. It includes testing interaction and compatibility of different system elements, such as central pr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5561de7af3df4b2d8bdc7426755d9638
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 12, Pp 142569-142581 (2024)
Advancements in technology are propelling Cyber-Physical Systems (CPS) into crucial roles across various sectors, implying the need for stricter CPS safety and security measures as their deployment in safety-critical scenarios increases. Physical-to-
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cc856a1990e5424c8c6f968f82cc2970
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 9, Pp 124632-124639 (2021)
A memory fault model (FM) is an abstraction of the physical mechanism of memory failure. When the physical failure mechanisms are not fully represented in FMs, the coverage of the FMs can be different from that of the failure mechanisms. However, it
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/54e8003aa6e74e91a31afed5f6fba598
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
G. NITHYA, M. RAMASWAMY
Publikováno v:
Journal of Engineering Science and Technology, Vol 13, Iss 12, Pp 4173-4192 (2018)
The paper develops an efficient mechanism with a view to healing bridging faults in synchronous sequential circuits. The scheme inserts faults randomly into the system at the signal levels, encompasses ways to intrigue the state of the signals and ca
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/097273e0be4f49759a649ab0cefd5488
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.