Zobrazeno 1 - 10
of 89
pro vyhledávání: '"extended defect"'
Autor:
Wang, Zhen, Guo, Hangwen, Shao, Shuai, Saghayezhian, Mohammad, Li, Jun, Fittipaldi, Rosalba, Vecchione, Antonio, Siwakoti, Prahald, Zhu, Yimei, Zhang, Jiandi, Plummer, E. W.
Publikováno v:
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2018 Sep . 115(38), 9485-9490.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/26531140
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
BARBISAN, LUCA
Il numero di transistor per unità di area che possono essere posizionati su un wafer a semiconduttore dipende dalla capacità del wafer di dissipare tale energia termica. I materiali con elevata conducibilità termica e temperatura di fusione, come
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1299::943b6b95c7729e3385e93369f4742ed4
http://hdl.handle.net/10281/366130
http://hdl.handle.net/10281/366130
Inversion domain boundaries are extended defects affecting cubic silicon carbide (3C-SiC) layers grown on the on-axis (001) Si wafers. Their impact on the device performance is still debated and a clear connection to their electronic properties at th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::22cd41a1bbc5c85927b89b85bdb68d67
http://hdl.handle.net/10281/386950
http://hdl.handle.net/10281/386950
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Paolo Ghigna, S. Marchionna, Irene Quinzeni, Chiara Ferrara, Giovanni Maria Vanacore, Riccardo Ruffo, Antonio Gentile, Clemens Ritter, Simone Pollastri, Martina Fracchia
Publikováno v:
Nano Letters
'Nano Letters ', vol: 21, pages: 8290-8297 (2021)
'Nano Letters ', vol: 21, pages: 8290-8297 (2021)
The most common MXene composition Ti3C2Tx(T = F, O) shows outstanding stability as anode for sodium ion batteries (100% of capacity retention after 530 cycles with charge efficiency >99.7%). However, the reversibility of the intercalation/deintercala
Publikováno v:
physica status solidi (b). 259:2100584
The crossing of stacking faults (SFs) (namely dislocation forests) in 3C-SiC is experimentally probed to cause detrimental effects on the electronic properties of the layer. By means of classical molecular dynamics simulations, for the first time the
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mehdi Naamoun, Alix Gicquel, Pascal Doppelt, Alexandre Tallaire, Jocelyn Achard, Julien Barjon, Marc Legros
Publikováno v:
Diamond and Related Materials
Diamond and Related Materials, Elsevier, 2015, 58, pp.62-68. ⟨10.1016/j.diamond.2015.06.012⟩
Diamond and Related Materials, 2015, 58, pp.62-68. ⟨10.1016/j.diamond.2015.06.012⟩
Diamond and Related Materials, Elsevier, 2015, 58, pp.62-68. ⟨10.1016/j.diamond.2015.06.012⟩
Diamond and Related Materials, 2015, 58, pp.62-68. ⟨10.1016/j.diamond.2015.06.012⟩
cited By 3; International audience; The development of diamond-based electronic devices designed to operate at high power is strongly hampered by the lack of low dislocation single crystal material. Dislocations in Chemically Vapor Deposited (CVD) di
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.