Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"equivalent transistor"'
Autor:
P. Chiquet, V. Della Marca, Thibault Kempf, Marc Bocquet, Arnaud Regnier, Jérémy Postel-Pellerin
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.159-163. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.116⟩
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2018, 88-90, pp.159-163. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.116⟩
Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.159-163. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.116⟩
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2018, 88-90, pp.159-163. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.116⟩
International audience; Nowadays, the study of physical mechanisms that occur during Flash memory cell life is mandatory when reaching the 40nm and beyond nodes in terms of reliability. In this paper we carry out a complete experimental method to ext
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d3605fbb8c163708076de3b62d0f8f4e
https://hal.science/hal-01900789/file/DellaMarca_MR_2018_vf_rw.pdf
https://hal.science/hal-01900789/file/DellaMarca_MR_2018_vf_rw.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.