Study of achromatic beamline design for laser-driven femtosecond electron beams

Autor: ZHU Jungao, LU Haiyang, ZHAO Yuan, LAI Meifu, GU Yongli, XU Shixiang, WEN Meng, ZHOU Cangtao

Publikováno v: He jishu, Vol 46, Iss 2, Pp 020201-020201 (2023)

BackgroundThe electron beams produced by laser plasma acceleration have excellent quality for pulse lengths of the order of fs. Due to the existence of a strong laser field, there are difficulties in direct applications, and more applications need to

Externí odkaz: https://doaj.org/article/95ef8d348cc240c3ba34bbf52a86526b

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Towards automatic failure analysis of complex ICs through e-beam testing

Autor: Bergher, L., Laurent, J., Courtois, B., Collin, J.P

Publikováno v: International-Test-Conference-1986-Proceedings.-Testing's-Impact-on-Design-and-Technology-Cat.-No.-86CH2339-0.
International-Test-Conference-1986-Proceedings.-Testing's-Impact-on-Design-and-Technology-Cat.-No.-86CH2339-0., 1986, Washington, DC, United States. pp.465-71

ISBN: 0818607262; A strategy is derived for failure analysis in random logic devices such as microprocessors and other VLSI chips when the electrical scheme is not known. This strategy is based on the use of a test tool composed of a scanning electro

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::9231da7530d4a70b5431d37de2a5592d
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00013436