Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"electron and hole field emission"'
Autor:
Dong Hoon Shin, Duk Hyun Lee, Sang‐Jun Choi, Seonyeong Kim, Hakseong Kim, Kenji Watanabe, Takashi Taniguchi, Eleanor E. B. Campbell, Sang Wook Lee, Suyong Jung
Publikováno v:
Advanced Electronic Materials, Vol 9, Iss 6, Pp n/a-n/a (2023)
Abstract Weak interlayer couplings at 2D van der Waals (vdW) interfaces fundamentally distinguish out‐of‐plane charge flow, the information carrier in vdW‐assembled vertical electronic and optical devices, from the in‐plane band transport pro
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/29df69ea78ef4a12ae3f6fca7bfd507d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.