Zobrazeno 1 - 10
of 912
pro vyhledávání: '"electrode profile"'
Publikováno v:
Plasma, Vol 5, Iss 1, Pp 130-145 (2022)
Sparkgap are most widely used closing switches in various high-voltage pulsed power systems and its reliable operation at desired voltage level is very essential. Conventionally by adjusting the filling gas pressure inside sparkgap switch, breakdown
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1dc80e0d656b48ceb685bb05a6ace3a0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Robbins, Austin R., Plattner, Alain
Publikováno v:
In Journal of Applied Geophysics April 2018 151:66-72
Autor:
Richard, Jacques, Giandomenico, Nicola
Publikováno v:
In Procedia CIRP 2018 68:819-824
Autor:
Abd Samad, Muhammad Izzuddin, Buyong, Muhamad Ramdzan, Kim, Shyong Siow, Yeop Majlis, Burhanuddin
Publikováno v:
Microelectronics International, 2019, Vol. 36, Issue 2, pp. 45-53.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-06-2018-0037
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In CIRP Annals - Manufacturing Technology 2003 52(1):169-172
Autor:
Muhamad Ramdzan Buyong, Burhanuddin Yeop Majlis, Muhammad Izzuddin Abd Samad, Shyong Siow Kim
Publikováno v:
Microelectronics International. 36:45-53
Purpose The purpose of this paper is to use a particle velocity measurement technique on a tapered microelectrode device via changes of an applied voltage, which is an enhancement of the electric field density in influencing the dipole moment particl
Autor:
Austin R. Robbins, Alain Plattner
Publikováno v:
Journal of Applied Geophysics. 151:66-72
We present an electrode layout strategy that allows electrical resistivity profiles to image the third dimension close to the profile plane. This “offset-electrode profile” approach involves laterally displacing electrodes away from the profile l