Zobrazeno 1 - 10
of 2 012
pro vyhledávání: '"dynamic atomic force microscopy"'
Autor:
Rajput, Shatruhan Singh, Deopa, Surya Pratap S, Ajith, V. J., Kamerkar, Sukrut C., Patil, Shivprasad
The quantitative measurement of viscoelasticity of nano-scaleentities is an important goal of nanotechnology research and there is considerable progress with advent of dynamic Atomic Force Microscopy. The hydrodynamics of cantilever, the force sensor
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2106.13631
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
George, J., Bhattacharyya, D.
Polymer composites were manufactured using biocarbon particles as a reinforcing filler to improve the mechanical and thermal properties. However, a detailed examination of dispersion and agglomeration of filler is essential to correlate the filler ma
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2106.04798
Publikováno v:
In Mechanical Systems and Signal Processing 1 November 2022 179
Publikováno v:
In Journal of the Mechanics and Physics of Solids February 2022 159
Stretching response of polymer chains under external force is crucial in understanding polymer dynamics under equilibrium and non-equilibrium conditions. Here we measure the elastic response of poly(ethylene glycol) using a lock-in based amplitude mo
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1904.05025
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 11, Iss 1, Pp 1409-1418 (2020)
Atomic force microscopy (AFM) is a widely use technique to acquire topographical, mechanical, or electromagnetic properties of surfaces, as well as to induce surface modifications at the micrometer and nanometer scale. Viscoelastic materials, example
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/449e4971851c4ef9bb8f206453b60fba
Autor:
Wagner, Tino
Publikováno v:
J. Appl. Phys. 125 (2019) 044301
We discuss the influence of external forces on the motion of the tip in dynamic atomic force microscopy (AFM). First, a compact solution for the steady-state problem is derived employing a Fourier approach. Founding on this solution, we present an an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1810.04237
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.