Zobrazeno 1 - 10 of 16 pro vyhledávání: '"dos Santos, S. D."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Conference
On the variability and front-back coupling of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs.
Autor: dos Santos, S. D., Simoen, E., Strobel, V., Cretu, B., Routoure, J.-M., Carin, R., Aoulaiche, M., Jurczak, M., Martino, J. A., Claeys, C.
Publikováno v: 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology; 1/ 1/2012, p1-3, 3p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
High energy tests of advanced materials for beam intercepting devices at CERN HIRADMAT facility
Autor: Bertarelli, A., Assmann, R., Berthome, E., Boccone, V., FEDERICO CARRA, Cerutti, F., Dallocchio, A., Dos Santos, S. D. M., Francon, P., Gentini, L., Guinchard, M., Mariani, N., Masi, A., Moyret, P., Redaelli, S., Peroni, L., Scapin, M.
Publikováno v: Scopus-Elsevier
Predicting by simulations the consequences of LHC particle beams hitting Collimators and other Beam Intercepting Devices (BID) is a fundamental issue for machine protection: this can be done by resorting to highly non-linear numerical tools (Hydrocod
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::393c52ae3f47be42ee2bb95b97ec52cf
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85081113105&partnerID=MN8TOARS
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
NW-TFET analog performance for different Ge source compositions.
Autor: Agopian, P. G. D., dos Santos, S. D., Neves, F. S., Martino, J. A., Vandooren, A., Rooyackers, R., Simoen, E., Claeys, C.
Publikováno v: 2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S); 2013, p1-2, 2p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje