Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"digital circuit testing"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dworak, Jennifer Lynn
Manufacture testing of digital integrated circuits is essential for high quality. However, exhaustive testing is impractical, and only a small subset of all possible test patterns (or test pattern pairs) may be applied. Thus, it is crucial to choose
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1969.1/323
Publikováno v:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE, 2009, 18 (2), pp.329-333. ⟨10.1109/TVLSI.2008.2010045⟩
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE, 2009, 18 (2), pp.329-333. ⟨10.1109/TVLSI.2008.2010045⟩
International audience; This paper describes a generic BIST strategy for devices implementing symmetric encryption algorithms. Taking advantage of the inner iterative structures of crypto-cores, test facilities are easily set-up for circular self-tes
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5a3971062bab3fe6d59de5df47606f6b
https://doi.org/10.1109/tvlsi.2008.2010045
https://doi.org/10.1109/tvlsi.2008.2010045
Autor:
Spyros Tragoudas, Dimitri Kagaris
Publikováno v:
Discrete Applied Mathematics. 110(2-3):227-250
The use of a binary counter as a mechanism for VLSI built-in test pattern generation is examined. Four different schemes are studied which are defined as partitioning problems on the rows of a binary matrix T. The goal in all problems is to minimize
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8ab85c6f46b1c0542612bdd2023f7b79
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.