Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"differential sputtering"'
Autor:
Andrea García-Junceda, Luca Puricelli, Andrea Valsesia, François Rossi, Pascal Colpo, Ana Ruiz-Moreno
Publikováno v:
Metals, Vol 12, Iss 3, p 468 (2022)
A methodology to miniaturize mechanical tests of metal alloys based on membrane deformation was developed in this investigation. The buildup of this new path for miniaturization tests requires small amounts of material for testing. This is of particu
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/19c82bc441c44fa29f68b7d38738ddf2
Autor:
Yves Fleming, Tom Wirtz
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 1091-1099 (2015)
Using the recently developed SIMS–SPM prototype, secondary ion mass spectrometry (SIMS) data was combined with topographical data from the scanning probe microscopy (SPM) module for five test structures in order to obtain accurate chemical 3D maps:
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/feb799dccf5a47f0a0dfabf9102cb493
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Coatings; Volume 12; Issue 10; Pages: 1541
Total sputtering yield and spatial distributions of sputtered atoms are important for numerous deposition techniques. We performed SRIM (Stopping and Range of Ions in Matter) simulations to analyze the total sputtering yield and angular distribution
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::85c1a54b9d29a6df4f234ce1b6979b72
https://doi.org/10.3390/coatings12101541
https://doi.org/10.3390/coatings12101541
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tom Wirtz, Yves Fleming
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 1091-1099 (2015)
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 1091-1099 (2015)
Using the recently developed SIMS–SPM prototype, secondary ion mass spectrometry (SIMS) data was combined with topographical data from the scanning probe microscopy (SPM) module for five test structures in order to obtain accurate chemical 3D maps:
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::34dc87952b57c8fb326a1ab31c9da9b4
http://europepmc.org/articles/PMC4464366
http://europepmc.org/articles/PMC4464366
Publikováno v:
宇宙輸送シンポジウム: 講演集録 = Proceedings of Space Transportation Symposium.
平成20年度宇宙輸送シンポジウム(2009年1月19日-20日, 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部)
Measurement technique of differential sputter yield is described in this study. The equipment consists of multiple Quart
Measurement technique of differential sputter yield is described in this study. The equipment consists of multiple Quart
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::3942c6bd2961b6dc74499687e3b2fb39
http://id.nii.ac.jp/1696/00016767/
http://id.nii.ac.jp/1696/00016767/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.