Zobrazeno 1 - 10
of 57
pro vyhledávání: '"defect discovery"'
Publikováno v:
Journal of Microelectronic Manufacturing, Vol 3, Iss 4 (2020)
Chip designers employ computer-aided design, circuit simulation, and design rule check systems. Lithography engineers employ model-based OPC (Optical Proximity Correction) and model-based print-simulation systems. Reticle inspection teams employ Aeri
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/522dc7e2b827493fa0209e082eed9783
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhang, Xuan
Product defects concern various groups of people, such as customers, manufacturers, government officials, etc. Thus, defect-related knowledge and information are essential. In keeping with the growth of social media, online forums, and Internet comme
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10919/85581
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Khurram Zafar, Chenmin Hu, Abhishek Vikram, Anchor Semiconductor, Santa Clara, Usa, Geoffrey Ying
Publikováno v:
Journal of Microelectronic Manufacturing, Vol 3, Iss 4 (2020)
Chip designers employ computer-aided design, circuit simulation, and design rule check systems. Lithography engineers employ model-based OPC (Optical Proximity Correction) and model-based print-simulation systems. Reticle inspection teams employ Aeri
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a408e3043683917bbab6546f2768f9c3
http://www.jommpublish.org/p/62/
http://www.jommpublish.org/p/62/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.