Zobrazeno 1 - 10
of 97
pro vyhledávání: '"deactivation rate"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Enantiopure epichlorohydrin (ECH) is an important building block for the production of chiral pharmaceuticals and agrochemicals such as L- carnitine, β-blockers and pheromones. ECH is also used as an intermediate in the preparation of paper chemical
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=57a035e5b1ae::1304ff24cb89729e8a086e51be80481d
https://www.bib.irb.hr/1211464
https://www.bib.irb.hr/1211464
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
AIP Advances 7 (2017), Nr. 3
AIP Advances, Vol 7, Iss 3, Pp 035305-035305-6 (2017)
AIP Advances, Vol 7, Iss 3, Pp 035305-035305-6 (2017)
Based on contactless carrier lifetime measurements performed on p-type boron-doped Czochralski-grown silicon (Cz-Si) wafers, we examine the rate constant Rde of the permanent deactivation process of the boron-oxygen-related defect center as a functio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7ee498f5d2cecd3005de4257aacfd740
http://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/1289
http://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/1289