Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"de Potter de ten Broeck, M."'
Autor:
Sleeckx, E., Schaekers, M., Shi, X., Kunnen, E., Degroote, B., Jurczak, M., de Potter de ten Broeck, M., Augendre, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(5):865-868
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Griffoni, A., Silvestri, M., Gerardin, S., Meneghesso, G., Paccagnella, A., Kaczer, B., de Potter de ten Broeck, M., Verbeeck, R., Nackaerts, A.
Publikováno v:
2008 European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2008, p432-437, 6p
Autor:
Van Olmen, J., Mercha, A., Katti, G., Huyghebaert, C., Van Aelst, J., Seppala, E., Zhao Chao, Armini, S., Vaes, J., Teixeira, R.C., Van Cauwenberghe, M., Verdonck, P., Verhemeldonck, K., Jourdain, A., Ruythooren, W., de Potter de ten Broeck, M., Opdebeeck, A., Chiarella, T., Parvais, B., Debusschere, I.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Chiarella, T., Ramos, J., Nackaerts, A., Demuynck, S., Verhaegen, S., Verbeeck, R., de Potter de ten Broeck, M., Kerner, C., Hoffmann, T., Van Hove, M., Debusschere, I., Biesemans, S.
Publikováno v:
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2006, p93-97, 5p
Autor:
Augendre, E., Rooyackers, R., de Potter de ten Broeck, M., Kunnen, E., Beckx, S., Mannaert, G., Vrancken, C., Vassilev, V., Chiarella, T., Jurczak, M., Debusschere, I.
Publikováno v:
ESSDERC '03. 33rd Conference on European Solid-State Device Research, 2003; 2003, p219-222, 4p
Autor:
Qiu Y; 1] Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium [2] Instituut Kern-en Stralings Fysika, K.U.Leuven, Leuven, Belgium., Bender H; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Richard O; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Kim MS; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Van Besien E; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Vos I; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., de Potter de ten Broeck M; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Mocuta D; Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium., Vandervorst W; 1] Imec, Kapeldreef 75, Leuven, Belgium [2] Instituut Kern-en Stralings Fysika, K.U.Leuven, Leuven, Belgium.
Publikováno v:
Scientific reports [Sci Rep] 2015 Aug 04; Vol. 5, pp. 12692. Date of Electronic Publication: 2015 Aug 04.
Autor:
Hellings, G., Scholz, M., Detalle, M., Velenis, D., de Potter de ten Broeck, M., Neve, C. Roda, Li, Y., Van Huylenbroek, S., Chen, S.-H., Marinissen, E.-J., Manna, A. La, Van der Plas, G., Linten, D., Beyne, E., Thean, A.
Publikováno v:
2015 Symposium on VLSI Circuits (VLSI Circuits); 2015, pT222-T223, 2p
Publikováno v:
Nanotechnology; 1/1/2023, Vol. 34 Issue 1, p1-8, 8p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.