Zobrazeno 1 - 10
of 66
pro vyhledávání: '"de Planque, M."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Infectious Diseases, 1986 Jun 01. 153(6), 1186-1186.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/30105240
Autor:
Sun, K., Zeimpekis, I., Hu, C., Ditshego, N., Thomas, O., de Planque, M., Chong, H., Morgan, H., Ashburn, P.
Publikováno v:
Nanotechnology. 27(28)
In this work, we investigate how the sensitivity of a nanowire or nanoribbon sensor is influenced by the subthreshold slope of the sensing transistor. Polysilicon nanoribbon sensors are fabricated with a wide range of subthreshold slopes and the sens
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b5980b3d065ff7705d5cb3c21d8fe8c7
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/27255984
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/27255984
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
NanoBioTech
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1032::90b2d77d5c73cc7aa62a2da26a051e17
http://hdl.handle.net/10044/1/41909
http://hdl.handle.net/10044/1/41909
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC); 1/ 1/2012, p137-140, 4p