Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"de Marneffe, J.F."'
Autor:
Demuynck, S., de Marneffe, J.F., Le, Q.T., Vos, I., Devriendt, K., Van Hove, M., Waeterloos, J., Howard, K., Popa, P., Wilson, L., Mills, L.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2303-2308
Publikováno v:
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2010 IEEE/SEMI; 2010, p34-38, 5p
Autor:
Lauwers, A., Mertens, S., Absil, P., Chiarella, T., Hoffmann, T., Kubicek, S., de Marneffe, J.F., Brijs, A.B., Vrancken, C., Biesemans, S., Kittl, J., Verheyden, K., Vanormelingen, K., Granneman, E.
Publikováno v:
2007 15th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors; 2007, p111-117, 7p
Autor:
Yu, H.Y., Singanamalla, R., Opsomer, K., Augendre, E., Simoen, E., Kittl, J.A., Kubicek, S., Severi, S., Shi, X.P., Brus, S., Zhao, C., de Marneffe, J.F., Locorotondo, S., Shamiryan, D., Van Dal, M., Veloso, A., Lauwers, A., Niwa, M., Maex, K., Meyer, K.D.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p638-641, 4p
Autor:
Nackaerts, A., Ercken, M., Demuynck, S., Lauwers, A., Baerts, C., Bender, H., Boulaert, W., Collaert, N., Degroote, B., Delvaux, C., de Marneffe, J.F., Dixit, A., De Meyer, K., Hendrickx, E., Heylen, N., Jaenen, P., Laidler, D., Locorotondo, S., Maenhoudt, M., Moelants, M.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p269-272, 4p
Autor:
Severi, S., Anil, K.G., Henson, K., Lauwers, A., Veloso, A., de Marneffe, J.F., Ramos, J., Eyben, P., Vandervost, W., Jurczak, M., Biesemans, S., De Meyer, K., Pawlak, J.B., Duffy, R., Lindsay, R., Camillo-Castillo, R.A., Dachs, C.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p99-102, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Le, Quoc Toan, Drieskens, F., Conard, T., Lux, M., de Marneffe, J.F., Struyf, H., Vereecke, G.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; April 2012, Vol. 187 Issue: 1 p207-210, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Witters, L., Collaert, N., Nackaerts, A., Demand, M., Demuynek, S., Delvaux, C., Lauwers, A., Baerts, C., Beckx, S., Bouilart, W., Brus, S., Degroote, B., de Marneffe, J.F., Dixit, A., De Meyer, K., Ercken, M., Goodwin, M., Hendrickx, E., Heylen, N., Jaenen, P.
Publikováno v:
2005 Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology; 2005, p106-107, 2p