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pro vyhledávání: '"dégradations surfaciques"'
Autor:
Yee Kin Choi, Elsa, Carvou, Erwann, Bourda, Christine, Ben Jemaa, Noureddine, Mitchell, James
Publikováno v:
CAE XII Colloque sur les Arcs Electriques
CAE XII Colloque sur les Arcs Electriques, Mar 2015, Clermont ferrand, France
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement, 2015, 1 (1), ⟨10.18145/jitipee.v1i1.67.g53⟩
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement, Université Clermont Auvergne, 2015, 1 (1), ⟨10.18145/jitipee.v1i1.67.g53⟩
CAE XII Colloque sur les Arcs Electriques, Mar 2015, Clermont ferrand, France
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement, 2015, 1 (1), ⟨10.18145/jitipee.v1i1.67.g53⟩
Journal International de Technologie, de l'Innovation, de la Physique, de l'Energie et de l'Environnement, Université Clermont Auvergne, 2015, 1 (1), ⟨10.18145/jitipee.v1i1.67.g53⟩
Dans les contacts électriques, de type relais, l’augmentation de la résistance de contact peut provenir d’une dégradation de l’interface de contact causée par des arcs électriques. Si ces dégradations sont importantes, elles peuvent cause
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6b51d898c9112a0d5ca8978f87e785d9
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01133745
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01133745