Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"cuse thin films"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials Research, Vol 18, Iss 5, Pp 1000-1007 (2015)
AbstractCopper selenide (CuSe) thin films were prepared by chemical bath deposition (CBD) method. X-ray diffraction (XRD) analysis was used to study the structure and crystallite size of CuSe thin film. The grain size and the surface morphology were
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a01a914969f64a97889822253830cfb7
Autor:
Ying Chyi Liew J., Talib Zainal, Mahmood W., Yunus M., Zainal Zulkarnain, Halim Shaari, Moksin Mohd, Yusoff Wan, Pah Lim K.
Publikováno v:
Open Physics, Vol 7, Iss 2, Pp 379-384 (2009)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c00f3c8cbb1a4db88754a6680cef859d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
K. Pah Lim, J. Ying Chyi Liew, Zainal Abidin Talib, Wan Mohd Daud Wan Yusoff, Zulkarnain Zainal, Mohd Maarof Abd. Moksin, Mat Yunus, W. Mahmood, Shaari Abdul Halim
Publikováno v:
Open Physics, Vol 7, Iss 2, Pp 379-384 (2009)
Thin films of copper selenide (CuSe) were physically deposited layer-by-layer up to 5 layers using thermal evaporation technique onto a glass substrate. Various film properties, including the thickness, structure, morphology, surface roughness, avera
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::dfe70bbae826b2f73afe7fd22b2bffdb
https://doaj.org/article/c00f3c8cbb1a4db88754a6680cef859d
https://doaj.org/article/c00f3c8cbb1a4db88754a6680cef859d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.