Zobrazeno 1 - 10
of 2 314
pro vyhledávání: '"current dispersion"'
Publikováno v:
You-qi chuyun, Vol 43, Iss 2, Pp 222-231 (2024)
[Objective] In light of a growing number of oil and gas pipelines crossing or running near power lines,the issue of lightning overvoltage at these locations has garnered increasing attention within these two industries. [Methods] In this study,a calc
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/d0e5ad2d06ea417398d4a03511d34ee0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Liu, Zhipeng, Mei, Zhusong, Kong, Defeng, Pan, Zhuo, Xu, Shirui, Gao, Ying, Shou, Yinren, Wang, Pengjie, Cao, Zhengxuan, Liang, Yulan, Peng, Ziyang, Zhao, Jiarui, Chen, Shiyou, Song, Tan, Chen, Xun, Xu, Tianqi, Yan, Xueqing, Ma, Wenjun
Post-acceleration of protons in helical coil targets driven by intense, ultrashort laser pulses can enhance the ion energy by utilizing the transient current originating from the self-discharging of the targets. The acceleration length of the protons
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.04144
Autor:
Zhipeng Liu1, Zhusong Mei1, Defeng Kong1, Zhuo Pan1, Shirui Xu1, Ying Gao1, Yinren Shou1, Pengjie Wang1, Zhengxuan Cao1, Yulan Liang1, Ziyang Peng1, Jiarui Zhao1, Shiyou Chen1, Tan Song1, Xun Chen1, Tianqi Xu1, Xueqing Yan1,2,3, Wenjun Ma1,2,3 wenjun.ma@pku.edu.cn
Publikováno v:
High Power Laser Science & Engineering. 2023, Vol. 11, p1-12. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vaidya, Abhishek, Singisetti, Uttam
A comprehensive study of drain current dispersion effects in $\beta$-Ga$_2$O$_3$ FETs has been done using DC, pulsed and RF measurements. Both virtual gate effect in the gate-drain access region and interface traps under the gate are most plausible e
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.06992
Autor:
Chiocchetta, F., De Santi, C., Rampazzo, F., Mukherjee, K., Grünenpütt, Jan, Sommer, Daniel, Blanck, Hervé, Lambert, Benoit, Gerosa, A., Meneghesso, G., Zanoni, E., Meneghini, M.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics April 2021 178
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.