Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"contaminant build-up"'
Autor:
Kinnell P., Habeb R.
Publikováno v:
Measurement Science Review, Vol 13, Iss 6, Pp 305-310 (2013)
In 3D tactile micro-metrology the contamination of probing devices is a major problem that affects the accuracy and repeatability of measured dimensions. Despite a large body of research in the field of micro CMM and micro probe design there is limit
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/01f717a0a30c4bd49addd69af850e1a0
Autor:
R R Habeb, Peter Kinnell
Publikováno v:
Measurement Science Review, Vol 13, Iss 6, Pp 305-310 (2013)
In 3D tactile micro-metrology the contamination of probing devices is a major problem that affects the accuracy and repeatability of measured dimensions. Despite a large body of research in the field of micro CMM and micro probe design there is limit
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::eb9241f185f324359bde02671dc89f3f
https://doaj.org/article/01f717a0a30c4bd49addd69af850e1a0
https://doaj.org/article/01f717a0a30c4bd49addd69af850e1a0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.