Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"chi-square histogram"'
Publikováno v:
Journal of Intelligent Systems, Vol 20, Iss 3, Pp 279-303 (2011)
Defect detection is a major concern in quality control of various products in industries. This paper presents two different machine-vision based methods for detecting defects on periodically patterned textures. In the first method, input defective im
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/7bca53ed97bd44ca9aa9377bd2206df1
Publikováno v:
Journal of Intelligent Systems, Vol 20, Iss 3, Pp 279-303 (2011)
Defect detection is a major concern in quality control of various products in industries. This paper presents two different machine-vision based methods for detecting defects on periodically patterned textures. In the first method, input defective im
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::aa8217910f75790c7259f67e768c66fb
https://doaj.org/article/7bca53ed97bd44ca9aa9377bd2206df1
https://doaj.org/article/7bca53ed97bd44ca9aa9377bd2206df1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.