Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"capping electrode"'
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 7, Pp 1072-1079 (2019)
To reduce the reset voltage and thus leakage current of the cross-point architecture of phase change memory (PCM), a type of 1S1R cell hierarchy with reconfigured electrode capping around the phase change material is explored in this paper. The elect
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c3b42e49bed34a2bbbb960d4018266fd
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 7, Pp 1072-1079 (2019)
To reduce the reset voltage and thus leakage current of the cross-point architecture of phase change memory (PCM), a type of 1S1R cell hierarchy with reconfigured electrode capping around the phase change material is explored in this paper. The elect
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::88cbf22d888a0e80202256a3d2aa75ec
https://ieeexplore.ieee.org/document/8877733/
https://ieeexplore.ieee.org/document/8877733/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.