Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"bismuth thin film"'
Publikováno v:
Solid State Electronics Letters, Vol 2, Iss, Pp 28-34 (2020)
We report our simulation on the electric field effect of Bi thin film. Band diagram and carrier concentrations of the Bi channel at different surface potentials have been obtained by numerically solving Poisson's equation. In the calculation, the ani
Autor:
Sandra Stanionytė, Tadas Malinauskas, Gediminas Niaura, Martynas Skapas, Jan Devenson, Arūnas Krotkus
Publikováno v:
Materials, Basel : MDPI AG, 2022, vol. 15, iss. 14, art. no. 4847, p. 1-12
Materials; Volume 15; Issue 14; Pages: 4847
Materials; Volume 15; Issue 14; Pages: 4847
Bismuth films with thicknesses between 6 and ∼30 nm were grown on Si (111) substrate by molecular beam epitaxy (MBE). Two main phases of bismuth — α-Bi and β-Bi — were identified from high-resolution X-ray diffraction (XRD) measurements. The
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4431eb9a658969a96dbd87634968e0f9
https://repository.vu.lt/VU:ELABAPDB137321890&prefLang=en_US
https://repository.vu.lt/VU:ELABAPDB137321890&prefLang=en_US
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Thin Bi(110) films deposited on highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) exhibit a pronounced moir\'e pattern; here the origin of the moir\'e pattern is investigated using scanning tunneling microscopy (STM) and spectroscopy (STS), high-resolution t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::912333079bff1257ef6cc49c47ddab85
https://doi.org/10.1103/physrevb.91.045434
https://doi.org/10.1103/physrevb.91.045434
Publikováno v:
Materials Research Express. 4:066001
mehmet/0000-0001-6030-0791 WOS: 000402919500001 In this work, 500 nm thick superconducting alpha-phase PbBi thin-films were grown by thermal evaporation and quench-condensation mechanism in a vacuum chamber. Thermally-evaporated lead-bismuth vapor co
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Durkaya, Goksel
Electrical and structural properties of Bismuth thin films were studied simultaneously. Electrical properties of the Bismuth thin films have been characterized by measuring temperature dependent conductivity and Hall effect. Structural analysis were
Externí odkaz:
http://etd.lib.metu.edu.tr/upload/12606374/index.pdf