Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"benchtop x-ray fluorescence computed tomography"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 9, Pp 49912-49919 (2021)
Pixelated semi-conductor detectors providing high energy resolution enable parallel acquisition of x-ray fluorescence (XRF) signals, potentially leading to performance enhancement of benchtop XRF imaging or computed tomography (XFCT) systems utilizin
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b65ddb84cc3f41fea8980a92882beb1c
Publikováno v:
IEEE Access
IEEE Access, Vol 9, Pp 49912-49919 (2021)
IEEE Access, Vol 9, Pp 49912-49919 (2021)
Pixelated semi-conductor detectors providing high energy resolution enable parallel acquisition of x-ray fluorescence (XRF) signals, potentially leading to performance enhancement of benchtop XRF imaging or computed tomography (XFCT) systems utilizin
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.