Zobrazeno 1 - 10
of 1 166
pro vyhledávání: '"automated measuring system"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ermachikhin, A. V.1 al.erm@mail.ru, Litvinov, V. G.1
Publikováno v:
Instruments & Experimental Techniques. Mar2018, Vol. 61 Issue 2, p277-282. 6p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Štambuk, Igor
Publikováno v:
Journal of Energy - Energija. 67:19-22
In this paper we will present a development of Measurement system for accurate comparison of low resistance standards and AC shunts ranging from 0.1 mΩ to 10 Ω as well as system testing and use. The system consists of a specially built current sour
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ba77e2c6e42de5694c23975617302077
https://doi.org/10.37798/201867187
https://doi.org/10.37798/201867187
Publikováno v:
Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ed02a2a3e109d67e7f540038783dd874
https://doi.org/10.1117/12.2646259
https://doi.org/10.1117/12.2646259
Autor:
E.A. Pecherskaya, O.V. Karpanin, D.E. Nelyutskovа, M.A. Nelyutskov, V.S. Aleksandrov, A.E. Zhurina
Publikováno v:
Измерение, мониторинг, управление, контроль, Iss 3 (2024)
Background. The object of study is an automated measuring system designed to measure the electrical parameters of semiconductor structures and devices. The subject of the study is the current-voltage characteristics of semiconductor structures and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0dc5959b87c642e0b8c49523baabb197
Publikováno v:
Strength of Materials. Sep2015, Vol. 47 Issue 5, p689-696. 8p. 3 Color Photographs, 1 Diagram, 1 Chart, 1 Graph.
Publikováno v:
2022 ELEKTRO (ELEKTRO).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7ff165687eb1ae645247325c2801b450
https://doi.org/10.1109/elektro53996.2022.9803719
https://doi.org/10.1109/elektro53996.2022.9803719
Publikováno v:
In Japanese Journal of Ophthalmology 2002 46(6):627-633
Publikováno v:
Интеллектуальная электротехника. :101-114
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::64e201b57e3c1e3d2b7d55c5e85a8e4b
https://doi.org/10.46960/2658-6754_2021_4_101
https://doi.org/10.46960/2658-6754_2021_4_101