Zobrazeno 1 - 10
of 449
pro vyhledávání: '"auto-focus"'
Publikováno v:
Heliyon, Vol 10, Iss 14, Pp e34133- (2024)
Circular Synthetic Aperture Radar(CSAR) imaging is vulnerable to perturbations in the atmosphere and various other elements that can lead to position offset errors in the antenna's phase center as well as induce motion errors. Traditional phase compe
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/432062d726e6417eaa4c7fd89daf42af
Autor:
Yijie Liu, Xuexuan Li, Pengfei Jiang, Ziyue Wang, Jichang Guo, Chao Luo, Yaozhong Wei, Zhiliang Chen, Chang Liu, Wang Ren, Wei Zhang, Juntian Qu, Zhen Zhang
Publikováno v:
Micromachines, Vol 15, Iss 10, p 1250 (2024)
Micro-stereolithography (μSL) is an advanced additive manufacturing technique that enables the fabrication of highly precise microstructures with fine feature resolution. One of the primary challenges in μSL is achieving and maintaining precise foc
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a060535b93a14c46b5015d543d0fbb98
A Rapid Nanofocusing Method for a Deep-Sea Gene Sequencing Microscope Based on Critical Illumination
Publikováno v:
Sensors, Vol 24, Iss 15, p 5010 (2024)
In the deep-sea environment, the volume available for an in-situ gene sequencer is severely limited. In addition, optical imaging systems are subject to real-time, large-scale defocusing problems caused by ambient temperature fluctuations and vibrati
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1d6c482eb2154723a3436bae6c846f60
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Doherty, Thomas
Publikováno v:
Cineaste. Spring2003, Vol. 28 Issue 2, p10. 4p. 6 Black and White Photographs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Sensors, Vol 23, Iss 17, p 7579 (2023)
Auto-focus technology plays an important role in the Micro-LED wafer defects detection system. How to accurately measure the defocus amount and the defocus direction of the Micro-LED wafer sample in a large linear range is one of the keys to realizin
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f27828526a294de394e01f34ceae5f45
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.