Zobrazeno 1 - 10
of 3 521
pro vyhledávání: '"atomic-scale resolution"'
Autor:
Svane-Petersen Jacob, Nymand Andreas, Jinschek Joerg R., Helveg Stig, Kryger-Baggesen Joakim, Kaptain Sophie Kargo
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 04044 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/028976666fb14eb2a1738a8ce7027937
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Matera, Sebastian, Reuter, Karsten
We investigate transport effects in in situ studies of defined model catalysts using a multi-scale modeling approach integrating first-principles kinetic Monte Carlo simulations into a fluid dynamical treatment. We specifically address two isothermal
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1205.5400
Autor:
Hofer, W. A., Fisher, A. J.
We propose a method to determine the direction of surface magnetization and local magnetic moments on the atomic scale. The method comprises high resolution scanning tunneling microscope experiments in conjunction with first principles simulations of
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0201241
Publikováno v:
Phys. Rev. Lett. {\bf 81}, 4963 (1998)
Applying a Keldysh Green`s function method it is shown that hot electrons injected from a STM-tip into a CoSi${}_2$/Si(111) system form a highly focused beam due to the silicide band structure. This explains the atomic resolution obtained in recent B
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9810229
The first realization of sub-Brownian motion metrology is reported. The position of a nanowire is measured with resolution better than 100 picometers via deep learning analysis of topologically structured light scattering on the nanowire
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______348::209e8f328b7c8b6866a041073c833d85
https://eprints.soton.ac.uk/456842/
https://eprints.soton.ac.uk/456842/
Publikováno v:
Conference on Lasers and Electro-Optics.
The first realization of sub-Brownian motion metrology is reported. The position of a nanowire is measured with resolution better than 100 picometers via deep learning analysis of topologically structured light scattering on the nanowire.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c2ac8beae91f6cfb4ed1dee3cce72099
https://doi.org/10.1364/cleo_qels.2022.fm2a.4
https://doi.org/10.1364/cleo_qels.2022.fm2a.4
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Analytical Methods; 2022, Vol. 14 Issue: 16 p1562-1570, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.