Zobrazeno 1 - 10
of 1 089
pro vyhledávání: '"atomic resolution transmission electron microscopy"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhang, Daliang, Zhu, Yihan, Liu, Lingmei, Ying, Xiangrong, Hsiung, Chia-En, Sougrat, Rachid, Li, Kun, Han, Yu
Publikováno v:
Science, 2018 Feb 01. 359(6376), 675-679.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/26401450
Autor:
Madsen, Jacob, Liu, Pei, Kling, Jens, Wagner, Jakob Birkedal, Hansen, Thomas Willum, Winther, Ole, Schiøtz, Jakob
Publikováno v:
Adv. Theory Simul. 1, 1800037 (2018)
Recording atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) images is becoming increasingly routine. A new bottleneck is then analyzing this information, which often involves time-consuming manual structural identification. We have developed a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1802.03008
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 10, Iss 10, p 1977 (2020)
The exit wave is the state of a uniform plane incident electron wave exiting immediately after passing through a specimen and before the atomic-resolution transmission electron microscopy (ARTEM) image is modified by the aberration of the optical sys
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fc585bcee63a42ac9f5a676f5a3c7d5f
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hanser, C. S., Vullum, Per Erik, Van Helvoort, Antonius, Schmitz, F.D., Häger, Tobias, Botcharnikov, R, Holst, Bodil
Externí odkaz:
https://hdl.handle.net/11250/3154029
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ding, Lipeng1,2,3 Lipeng.Ding@uantwerpen.be, Orekhov, Andrey3 Andrey.Orekhov@uantwerpen.be, Weng, Yaoyao1,4 yaoyaoweng@cqu.edu.cn, Jia, Zhihong1,5 zhihongjia@cqu.edu.cn, Idrissi, Hosni2,3 hosni.idrissi@uclouvain.be, Schryvers, Dominique3 nick.schryvers@uantwerpen.be, Muraishi, Shiji4 muraishi.s.aa@m.titech.ac.jp, Hao, Longlong1,5 haolonglong@cqu.edu.cn, Liu, Qing1,5 qingliu@cqu.edu.cn
Publikováno v:
Journal of Materials Science. May2019, Vol. 54 Issue 10, p7943-7952. 10p. 1 Chart, 5 Graphs.
Atomic-resolution transmission electron microscopy of electron beam–sensitive crystalline materials.
Autor:
Daliang Zhang1 daliang.zhang@kaust.edu.sa, Yihan Zhu2, Lingmei Liu2, Xiangrong Ying2, Chia-En Hsiung2, Sougrat, Rachid1, Kun Li1 kun.li@kaust.edu.sa, Yu Han2,3 yu.han@kaust.edu.sa
Publikováno v:
Science. 2/9/2018, Vol. 359 Issue 6376, p675-679. 5p. 4 Diagrams.
Defect Detection in Atomic Resolution Transmission Electron Microscopy Images Using Machine Learning
Publikováno v:
Mathematics, Vol 9, Iss 11, p 1209 (2021)
Point defects play a fundamental role in the discovery of new materials due to their strong influence on material properties and behavior. At present, imaging techniques based on transmission electron microscopy (TEM) are widely employed for characte
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/76c4abff132b4eee8cb5ff7480f65029