Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"ali doğuş"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In AEUE - International Journal of Electronics and Communications December 2017 82:58-65
Publikováno v:
Analog Integrated Circuits and Signal Processing. 113:241-248
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Horticulturae. :363-368
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 12, Pp 281-288 (2024)
This paper presents a machine-learning-based approach for the degradation modeling of hot carrier injection in metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). Stress measurement data have been employed at various stress conditions of bo
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/42728040a3d64e968f403d6a587a2a49
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yilmaz, Ali Doğuş
Amaç: Bu çalışmanın amacı farklı kumlama/sinterleme protokollerinin ve yaşlandırmanın, zirkonyanın yüzey pürüzlülüğü, faz dönüşümü ve eğilme dayanımı üzerindeki etkisini değerlendirmektir.Gereç ve Yöntem: Toplamda 104 ad
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10208::6cedcf973e74f323d59487faf4eab1e4
https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/583323
https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/583323