Zobrazeno 1 - 10
of 321
pro vyhledávání: '"access patterns"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mustafa Basthikodi, Waseem Ahmed
Publikováno v:
Journal of Systemics, Cybernetics and Informatics, Vol 14, Iss 2, Pp 78-82 (2016)
Performance growth of single-core processors has come to a halt in the past decade, but was re-enabled by the introduction of parallelism in processors. Multicore frameworks along with Graphical Processing Units empowered to enhance parallelism broad
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/31c7e880bf6941108f6f6731d8ea0d10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings on Privacy Enhancing Technologies, Vol 2021, Iss 1, Pp 5-20 (2021)
Intel SGX has been a popular trusted execution environment (TEE) for protecting the integrity and confidentiality of applications running on untrusted platforms such as cloud. However, the access patterns of SGX-based programs can still be observed b
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Zaguán. Repositorio Digital de la Universidad de Zaragoza
instname
instname
Negative Bias Temperature Instability (NBTI) and Hot Carrier Injection (HCI) are two of the main reliability threats in current technology nodes. These aging phenomena degrade the transistor''s threshold voltage (Vth) over the lifetime of a digital c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.