Zobrazeno 1 - 10
of 1 804
pro vyhledávání: '"accelerated degradation testing"'
Autor:
Li, Yang a, b, Gao, Haifeng a, ⁎, Chen, Hongtian c, Liu, Chun a, Yang, Zhe d, Zio, Enrico e, f
Publikováno v:
In Reliability Engineering and System Safety July 2024 247
Autor:
Zou, Tianji1,2 (AUTHOR) wuwenbo@csu.ac.cn, Wu, Wenbo1,2 (AUTHOR) lk@csu.ac.cn, Liu, Kai1,2 (AUTHOR) wangke@csu.ac.cn, Wang, Ke1,2 (AUTHOR) lvcongmin@csu.ac.cn, Lv, Congmin1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Mar2024, Vol. 24 Issue 5, p1426. 19p.
Autor:
Zou, Tianji1,2 (AUTHOR) lk@csu.ac.cn, Liu, Kai1,2 (AUTHOR) wuwenbo@csu.ac.cn, Wu, Wenbo1,2 (AUTHOR) wangke@csu.ac.cn, Wang, Ke1,2 (AUTHOR) lvcongmin@csu.ac.cn, Lv, Congmin1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Symmetry (20738994). Feb2024, Vol. 16 Issue 2, p160. 16p.
Autor:
Wang, Chengjie1,2 (AUTHOR), Liu, Jian3 (AUTHOR), Yang, Qingyu4 (AUTHOR), Hu, Qingpei1,2 (AUTHOR), Yu, Dan1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
IISE Transactions. Jul2023, Vol. 55 Issue 7, p698-710. 13p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2024 152
Autor:
Zhou, Xiaodong1 (AUTHOR), Wu, Yiqi1 (AUTHOR), Wang, Yunjuan2 (AUTHOR) yunjuanwang@163.com, Wu, Lin3 (AUTHOR), Yue, Rongxian3,4 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of Statistical Computation & Simulation. Dec2024, p1-30. 30p. 2 Illustrations, 12 Charts.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.