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Autor:
Zychowitz, Gert
Das PICTS-Verfahren ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur Charakterisierung semiisolierender Halbleiter. Die methodischen Fortschritte bei der Ermittlung von Störstellenparametern mit diesem Verfahren werden in dieser Arbeit vorgeste
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4293::15d04e31b7b2c0a3ca7a69a3dcce5fb7
https://tubaf.qucosa.de/id/qucosa:22554
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Autor:
Zychowitz, Gert
Das PICTS-Verfahren ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur Charakterisierung semiisolierender Halbleiter. Die methodischen Fortschritte bei der Ermittlung von Störstellenparametern mit diesem Verfahren werden in dieser Arbeit vorgeste
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https://tubaf.qucosa.de/id/qucosa%3A22554
https://tubaf.qucosa.de/api/qucosa%3A22554/attachment/ATT-0/
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