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Dissertation/ Thesis
Ein Beitrag zum Nachweis tiefer Störstellen in halbisolierendem Galliumarsenid mittels PICTS
Autor: Zychowitz, Gert
Das PICTS-Verfahren ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur Charakterisierung semiisolierender Halbleiter. Die methodischen Fortschritte bei der Ermittlung von Störstellenparametern mit diesem Verfahren werden in dieser Arbeit vorgeste
Externí odkaz: https://tubaf.qucosa.de/id/qucosa%3A22554
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Ein Beitrag zum Nachweis tiefer Störstellen in halbisolierendem Galliumarsenid mittels PICTS
Autor: Zychowitz, Gert
Das PICTS-Verfahren ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur Charakterisierung semiisolierender Halbleiter. Die methodischen Fortschritte bei der Ermittlung von Störstellenparametern mit diesem Verfahren werden in dieser Arbeit vorgeste
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