Zobrazeno 1 - 10
of 58
pro vyhledávání: '"Zutter, Brian"'
Autor:
Chen, Yueyun, Jin, Rebekah, Heffes, Yarin, Zutter, Brian, O'Neill, Tristan P., Lodico, Jared J., Regan, B. C., Mecklenburg, Matthew
Electron microscopy prevalently uses energy-dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and electron energy loss spectroscopy (EELS) for elemental analysis. EDS and EELS energy resolutions are commonly between 30-100 eV or 0.01-1 eV, respectively. Large soli
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.15639
Autor:
Zutter, Brian, Kim, Hyunseok, Hubbard, William, Ren, Dingkun, Mecklenburg, Matthew, Huffaker, Diana, Regan, B. C.
Electronic devices are extremely sensitive to defects in their constituent semiconductors, but locating electronic point defects in bulk semiconductors has previously been impossible. Here we apply scanning transmission electron microscopy (STEM) ele
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2010.05140
Autor:
Hubbard, William A., Lodico, Jared J., Ling, Xin Yi, Zutter, Brian, Yu, Young-Sang, Shapiro, David, Regan, B. C.
Total electron yield (TEY) imaging is an established scanning transmission X-ray microscopy (STXM) technique that gives varying contrast based on a sample's geometry, elemental composition, and electrical conductivity. However, the TEY-STXM signal is
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.13042
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 9, 014005 (2018)
Current thermometry techniques lack the spatial resolution required to see the temperature gradients in typical, highly-scaled modern transistors. As a step toward addressing this problem, we have measured the temperature dependence of the volume pla
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1706.05420
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hubbard, William A., Lodico, Jared J., Ling, Xin Yi, Zutter, Brian T., Yu, Young-Sang, Shapiro, David A., Regan, B.C.
Publikováno v:
In Ultramicroscopy March 2021 222
Autor:
Chen, Yueyun, Jin, Rebekah, Heffes, Yarin, Zutter, Brian, O'Neill, Tristan, Lodico, Jared, Regan, B C, Mecklenburg, Matthew
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zutter, Brian, Chen, Zejie, Barrera, Luisa, Gaieck, William, Lapp, Aliya S., Watanabe, Kenta, Kudo, Akihiko, Esposito, Daniel V., Bala Chandran, Rohini, Ardo, Shane, Talin, A. Alec
Publikováno v:
ACS Nano; 5/23/2023, Vol. 17 Issue 10, p9405-9414, 10p