Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Zuo, Huiling"'
Autor:
Hong Tao, Zhou Qijun, Xiaochuan Deng, Bo Zhang, Kemeng Zhang, Gao Wuhao, Zhaoji Li, Yajie Xin, Chao Liu, Qi Zhou, Yijun Shi, Deng Cao, Zuo Huiling, Liu Yawei, Wanjun Chen, Yun Xia
Publikováno v:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 20:214-220
This work demonstrates the failure mechanism of the cathode-short MOS controlled thyristor (CS-MCT) under repetitive high-current pulse condition. It is found that the hot spot and burn-out point localized at the boundary between the active area and
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 IEEE 83rd Vehicular Technology Conference (VTC Spring); 2016, p1-5, 5p