Zobrazeno 1 - 10
of 46
pro vyhledávání: '"Zinovev, P. V."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
It has been known for a long time that traditional semiconductor (e.g. intrinsic and doped Si and Ge or binary SiC and GaN) field emitters significantly deviate from Fowler-Nordheim (FN) law and saturate when a large current, on the order of microamp
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1710.03692
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In this communication, we report results of a high resolution sputter depth profiling analysis of a stack of 16 alternating MgO and ZnO nanolayers grown by atomic layer deposition (ALD) with thickness of ~5.5 nm per layer. We used an improved dual be
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1205.4045
Autor:
Baryshev, S. V., Zinovev, A. V., Tripa, C. E., Pellin, M. J., Peng, Q., Elam, J. W., Veryovkin, I. V.
We report results of high-resolution TOF SIMS (time of flight secondary ion mass spectrometry) depth profiling experiments on a nanolayered structure, a stack of 16 alternating MgO and ZnO ~5.5 nm layers grown on a Si substrate by atomic layer deposi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1204.6252
White light interferometry (WLI) can be used to obtain surface morphology information on dimensional scale of millimeters with lateral resolution as good as ~1 {\mu}m and depth resolution down to 1 nm. By performing true three-dimensional imaging of
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1204.0808
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.