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pro vyhledávání: '"Zimpeck, Alexandra Lackmann"'
Autor:
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSUniversidade Federal do Rio Grande do SulUFRGS.
O dimensionamento da tecnologia trouxe consequências indesejáveis para manter a taxa de crescimento exponencial e levanta questões importantes relacionadas com a confiabilidade e robustez dos sistemas eletrônicos. Atualmente, microprocessadores m
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10183/134459
Autor:
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
A variabilidade de processo e a resistência a radiação são requisitos de confiabilidade relevantes à medida que a fabricação de chips avança mais a fundo no regime nanométrico. A perda de rendimento paramétrico e as falhas críticas no comp
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::1c7f996c5ffedaf70896dfe87f70a4dd
Autor:
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
O dimensionamento da tecnologia trouxe consequências indesejáveis para manter a taxa de crescimento exponencial e levanta questões importantes relacionadas com a confiabilidade e robustez dos sistemas eletrônicos. Atualmente, microprocessadores m
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::9cf0686932c42d84995ff8f31d796e2c
Publikováno v:
Repositório Institucional da FURG (RI FURG)
Universidade Federal do Rio Grande (FURG)
instacron:FURG
Universidade Federal do Rio Grande (FURG)
instacron:FURG
Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este tra
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::22f380e5d3fe10da2691c0847ca1d3ae
http://repositorio.furg.br/handle/1/4810
http://repositorio.furg.br/handle/1/4810