Zobrazeno 1 - 10
of 91
pro vyhledávání: '"Zhizhin, E. V."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lebedev, M. V., Lvova, T. V., Smirnov, A. N., Davydov, V. Yu., Koroleva, A. V., Zhizhin, E. V., Lebedev, S. V.
Publikováno v:
Semiconductors; May2023, Vol. 57 Issue 5, p244-251, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
null Lebedev S. V., null Zhizhin E. V., null Koroleva A. V., null Davydov V. Yu., null Smirnov A. N., null Lvova T. V., null Lebedev M. V.
Publikováno v:
Semiconductors. 56:477
Photoluminescence, Raman spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy are used to study electronic and atomic structure of n-InP(100) surfaces treated with different sulfide solutions. It is shown that the sulfide treatment causes removal of the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0b678dbe5a3b1855ddcff8bdebb76909
https://doi.org/10.21883/sc.2022.07.54648.11
https://doi.org/10.21883/sc.2022.07.54648.11