Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"Zheng, Tongchang"'
Autor:
Zhou, Changjie, Zhu, Huili, Yang, Weifeng, Lin, Qiubao, Zheng, Tongchang, Yang, Lan, Lan, Shuqiong
Two-dimensional (2D) WS2 films were deposited on SiO2 wafers, and the related interfacial properties were investigated by high-resolution x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and first-principles calculations. Using the direct (indirect) method, th
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2205.08994
Autor:
Zhou, Changjie, Zhu, Huili, Pan, Shaobin, Zheng, Tongchang, Huang, Xiaojing, Lin, Qiubao, Yang, Weifeng
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 March 2020 505
Autor:
Zheng, Tongchang, Yang, Lan, Zhou, Changjie, Zhu, Huili, Wang, Xiulin, Lin, Qiubao, Cai, Duanjun, Kang, Junyong
Publikováno v:
Advanced Photonics Research; Jan2024, Vol. 5 Issue 1, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhu, Huili, Hong, Zifan, Zhou, Changjie, Wu, Qihui, Zheng, Tongchang, Yang, Lan, Lan, Shuqiong, Yang, Weifeng
Publikováno v:
Frontiers of Physics; Feb2023, Vol. 18 Issue 1, p1-12, 12p