Zobrazeno 1 - 10
of 64
pro vyhledávání: '"Zhao, Larry"'
Autor:
Van Besien, Els, Pantouvaki, Marianna, Zhao, Larry, De Roest, David, Baklanov, Mikhail R., Tőkei, Zsolt, Beyer, Gerald
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering April 2012 92:59-61
Autor:
Zhao, Larry, Volders, Henny, Baklanov, Mikhail, Tőkei, Zsolt, Pantouvaki, Marianna, Wilson, Christopher J., Van Besien, Els, Beyer, Gerald P., Claeys, Cor
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(9):3030-3034
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(6):990-993
Autor:
Wilson, Christopher J., Zhao, Chao, Volders, Henny, Zhao, Larry, Croes, Kristof, Tőkei, Zsolt, Beyer, Gerald P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(5):656-660
Evaluations of intrinsic time dependent dielectric breakdown of dielectric copper diffusion barriers
Autor:
Zhao, Larry, Lofrano, Melina, Croes, Kristof, Van Besien, Els, Tőkei, Zsolt, Wilson, Christopher J., Degraeve, Robin, Kauerauf, Thomas, Beyer, Gerald P., Claeys, Cor
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2011 520(1):662-666
Publikováno v:
Archives of Pathology & Laboratory Medicine. Jan2014, Vol. 138 Issue 1, p16-24. 9p.
Autor:
Wilson, Christopher J., Croes, Kristof, Zhao, Chao, Metzger, Till H., Zhao, Larry, Beyer, Gerald P., Horsfall, Alton B., O'Neill, Anthony G., Tőkei, Zsolt
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Sep2009, Vol. 106 Issue 5, p053524-1-053524-7, 7p, 5 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 1 Chart, 7 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhao, Larry, Barbarin, Yohan, Croes, Kristof, Baklanov, Mikhail R., Verdonck, Patrick, Tokei, Zsolt, Claeys, Cor
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 2/11/2015, Vol. 106 Issue 7, p1-4, 4p, 1 Diagram, 1 Chart, 5 Graphs