Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Zhang Tian-Chong"'
Autor:
Wang, Bo, Zhang, Yu-lian, Qi, Hui-Rong, Liu, Jing, Zhang, Xin-Shuai, Zhang, Tian-Chong, Yi, Fu-Ting, Ou-Yang, Qun, Chen, Yuan-Bo
In this paper, the effect of humidity and dust trapped in avalanche region on leakage current of bulk micro-MEGAS detector is studied. Pyralux PC1025 layers of DuPont are introduced in bulk technique and micro-MEGAS detector with pillars of 300{\mu}m
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1309.6439
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optoelectronics Letters; Sep2019, Vol. 15 Issue 5, p335-338, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, Bo, Shi, Bin, Yi, Fu Ting, Zhang, Dong Xian, Zhang, Hai Jun, Zhang, Tian Chong, Liu, Jing, Ma, Li Na
Publikováno v:
Key Engineering Materials; July 2013, Vol. 562 Issue: 1 p534-537, 4p
Autor:
Mei Zeng-Xia, Du Xiao-Long, Cui Xiu-Zhi, Guo Yang, Su Xi-Yu, Liu Zhang-Long, Zhang Tian-Chong, Liu Yao-Ping, Xue Qi-Kun
Publikováno v:
ResearcherID
A ZnO film with two-dimensional periodic structure was grown on Si substrate by radio-frequency plasma-assisted molecular beam epitaxy. The influence of wet-chemical etching on Si (100) and Si (111) substrates patterned with dot arrays was investigat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5152c8a63e6a687ff19cff4d8b293c72
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000262834300048&KeyUID=WOS:000262834300048
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000262834300048&KeyUID=WOS:000262834300048