Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Zelzer, Steffen"'
Autor:
Zelzer, Steffen, Batabyal, Rajib, Dardzinski, Derek, Marom, Noa, Grove-Rasmussen, Kasper, Krogstrup, Peter
We combined in-situ scanning tunneling microscopy (STM) with the conventional growth characterization methods of atomic force microscopy (AFM) and reflection high energy electron diffraction (RHEED) to simultaneously assess atomic-scale impurities an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2205.11132
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.