Knihovna AV ČR, v. v. i.
  • Odhlásit
  • Přihlášení
  • Jazyk
    • English
    • Čeština
  • Instituce
    • Knihovna AV ČR
    • Souborný katalog AV ČR
    • Archeologický ústav Brno
    • Archeologický ústav Praha
    • Astronomický ústav
    • Biofyzikální ústav
    • Botanický ústav
    • Etnologický ústav
    • Filosofický ústav
    • Fyzikální ústav
    • Fyziologický ústav
    • Geofyzikální ústav
    • Geologický ústav
    • Historický ústav
    • Masarykův ústav
    • Matematický ústav
    • Orientální ústav
    • Psychologický ústav
    • Slovanský ústav
    • Sociologický ústav
    • Ústav analytické chemie
    • Ústav anorganické chemie
    • Ústav pro českou literaturu
    • Ústav dějin umění
    • Ústav fyziky atmosféry
    • Ústav fotoniky a elektroniky
    • Ústav fyzikální chemie J. H.
    • Ústav fyziky materiálů
    • Ústav geoniky
    • Ústav pro hydrodynamiku
    • Ústav chemických procesů
    • Ústav informatiky
    • Ústav pro jazyk český
    • Ústav jaderné fyziky
    • Ústav makromolekulární chemie
    • Ústav pro soudobé dějiny
    • Ústav přístrojové techniky
    • Ústav státu a práva
    • Ústav struktury a mechaniky hornin
    • Ústav teoretické a aplikované mechaniky
    • Ústav teorie informace a automatizace
    • Ústav výzkumu globální změny
Pokročilé vyhledávání
  • Domovská stránka
  • Vyhledávání: "Zeev Wurman"
  • Navrhnout nákup titulu
Zobrazeno 1 - 8 of 8 pro vyhledávání: '"Zeev Wurman"'
1
Modified ELTRAN® — A game changer for Monolithic 3D
Autor: Brian Cronquist, Israel Beinglass, Zeev Wurman, Zvi Or-Bach, Albert K. Henning
Publikováno v: 2015 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S).
It is well recognized that dimensional scaling has reached its diminishing return phase and the industry is now looking to monolithic 3D to be the future technology driver. This was clearly voiced in the Qualcomm keynote at DAC 2014 and follow-on pre
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::39992d9f4ba3133db1d3f16ad7cd6465
https://doi.org/10.1109/s3s.2015.7333537
Zobrazit plný text záznamu
2
Monolithic 3D layout using 2D EDA for embedded memory-rich designs
Autor: Zeev Wurman, Zvi Or-Bach, V. Sontea, Ionica Pletea
Publikováno v: 2015 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S).
Monolithic 3D integration has generated considerable interest in recent years due it its inherent capability of supporting heterogeneous devices, and its rich vertical connectivity allowing for increased integration while reducing wire-length and pow
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::852f9169d32053c825c8ded3a88f25f2
https://doi.org/10.1109/s3s.2015.7333518
Zobrazit plný text záznamu
3
Precision bonders - A game changer for monolithic 3D
Autor: Israel Beinglass, Albert K. Henning, Brian Cronquist, Zeev Wurman, Zvi Or-Bach
Publikováno v: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S).
It is well recognized that dimensional scaling has reached its diminishing return phase and the industry is now looking to monolithic 3D to be the future technology driver. This was clearly voiced in the Qualcomm keynote at DAC 2014. This paper will
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::38c01d608d08f559c8ad07c0c8a05948
https://doi.org/10.1109/s3s.2014.7028243
Zobrazit plný text záznamu
4
Periodical
New Education Dashboard: Less Rigorous, Less Meaningful.
Autor: Wurman, Zeev1, Evers, Williamson M.2,3
Publikováno v: Education Week. 2/9/2011, Vol. 30 Issue 20, p28-29. 2p.
Zobrazit plný text záznamu
Plný text ve formátu HTML
5
Conference
Precision bonders - A game changer for monolithic 3D.
Autor: Or-Bach, Zvi, Cronquist, Brian, Wurman, Zeev, Beinglass, Israel, Henning, Albert
Publikováno v: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S); 2014, p1-3, 3p
Zobrazit plný text záznamu
6
Periodical
The Futures of School Reform: Readers Respond to the Series.
Publikováno v: Education Week; 7/13/2011, Vol. 30 Issue 36, p40-42, 3p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1991 PROCEEDINGS--TEST: FASTER, BETTER, SOONER.
Publikováno v: 1991, Proceedings International Test Conference; 1991, p01, 1p
Zobrazit plný text záznamu
8
Elektronická kniha
What Lies Ahead for America's Children and Their Schools
Autor: Chester E. Finn, Jr, Richard Sousa
The coming decade holds immense potential for dramatic improvement in U.S. education and in the achievement of American children and in this volume, members of the Hoover Institution's Koret Task Force on K - 12 Education examine both the potential g
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

  • RSS
  • Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje
Pouze tištěné dokumenty
Zahrnout EIZ
  • 3 Časopisy
  • 2 Konferenční materiály
  • 1 Elektronické knihy
  • 3 business
  • 3 business.industry
  • 3 engineering
  • 2 competitive advantage
  • 2 electrical engineering
  • 2 process (computing)
  • 2 product innovation
  • 1 academic achievement
  • 1 achievement gap
  • 1 computer
  • 1 computer architecture
  • 1 computer.software_genre
  • 1 dashboards (management information systems)
  • 1 diminishing returns
  • 1 duncan, arne, 1964-
  • 1 education, elementary--standards--united states
  • 1 education--united states
  • 1 electronic design automation
  • 1 embedded memory
  • 1 exploit
  • 1 law
  • 1 law.invention
  • 1 manufacturing engineering
  • 1 manufacturing line
  • 1 obama, barack, 1961-
  • 1 parallel computing
  • 1 partition (database)
  • 1 public schools--united states
  • 1 scripting language
  • 1 transistor
  • 1 united states education system
  • 1 vendor
  • 5 ieee
  • 3 editorial projects in education inc.
  • 1 education next books
  • 3 education week
  • 2 2014 soi-3d-subthreshold microelectronics technology unified conference (s3s)
  • 2 2015 ieee soi-3d-subthreshold microelectronics technology unified conference (s3s)
  • 1 1991, proceedings international test conference
  • 4 Complementary Index
  • 3 OpenAIRE
  • 1 eBook Index
  • 1 Academic Search Ultimate

Možnosti vyhledávání

  • Tematická mapa
  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Abecední procházení

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
načítá se......