Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Zanon, Th."'
Autor:
Huber, M., Nirschl, Th., Gstöttner, J., Heinitz, M., Zanon, Th., Maly, W., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1635-1640
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1999 39(6):1009-1014
Publikováno v:
Frequency Standards & Metrology, Procs of the 6th Symposium; 2002, p472-474, 3p