Zobrazeno 1 - 10
of 73
pro vyhledávání: '"Zampardi, Peter J."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2024 155
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
d'Alessandro, Vincenzo, Catalano, Antonio Pio, Magnani, Alessandro, Codecasa, Lorenzo, Rinaldi, Niccolò, Moser, Brian, Zampardi, Peter J.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2017 78:233-242
Determination of safe reliability region over temperature and current density for through wafer vias
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2017 68:5-12
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques; January 2024, Vol. 72 Issue: 1 p465-466, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 1999 43(8):1555-1560