Speklų interferometrija: mikrodeformacijų matavimas in situ

Autor: Tamulevičius, S., Augulis, L., Augulis, R., Zabarskas, V., Valeika, A., Bataitis, V.

Publikováno v: Lietuviškas spalvinis kineskopas: konstrukcija, technologija, kokybė : 9-osios AB "Ekranas" mokslinės-techninės konferencijos medžiaga, Panevėžys 1999 m. gruodžio 16 d., Vilnius : Mokslo aidai, 2000, p. 39-55

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::2200b12112a1c09bfa6e68b41ce6179a
https://vb.ktu.edu/KTU:ELABAPDB2415959&prefLang=en_US