Zobrazeno 1 - 10
of 52
pro vyhledávání: '"ZHEN Hongtao"'
Autor:
ZHEN Hongtao
Publikováno v:
Zhongliu Fangzhi Yanjiu, Vol 49, Iss 4, Pp 277-281 (2022)
Due to the paranasal sinuses adjacent to the orbit, the sinonasal malignancy is prone to invade the orbit, which is not only the advanced stage of the tumor, but also one of the poor prognostic factors. Preoperative CT and MRI scan and intraoperative
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a908baf195234151aecb16b7e8ac4c45
Publikováno v:
In Journal of Cranio-Maxillo-Facial Surgery February 2019 47(2):328-333
Publikováno v:
ENT: Ear, Nose & Throat Journal; Jul2024, Vol. 103 Issue 7, p447-453, 7p
Autor:
Zhen, Hongtao1 (AUTHOR) hongtaozhen23@163.com, Du, Peng2 (AUTHOR), Yi, Qiang1 (AUTHOR), Tang, Xiaolong1 (AUTHOR), Wang, Tongqing1 (AUTHOR)
Publikováno v:
BMC Cancer. 10/26/2021, Vol. 21 Issue 1, p1-14. 14p.
Autor:
Wei, Jing, Deng, Hui, Wu, Lihua, Song, Jianbo, Zhang, Junping, Yang, Wenhui, Zhang, Mengxian, Zhen, Hongtao
Supplemental material, sj-pdf-1-imr-10.1177_03000605221148895 for Lymphoepithelial carcinoma of the head and neck: a SEER analysis of prognostic factors for survival by Jing Wei, Hui Deng, Lihua Wu, Jianbo Song, Junping Zhang, Wenhui Yang, Mengxian Z
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1f1b33b8c1d59965969ed389c48f58e5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Additional file 1.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8a7969b013ca15745beaaabb538ec0d1
Publikováno v:
Proceedings of the 2016 Joint International Information Technology, Mechanical and Electronic Engineering.